Fornitore: FEI Italia SRL

17 appalti archiviati

FEI Italia SRL è stato storicamente un fornitore di attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri), apparecchi di prova e controllo e microscopi.
Storicamente, gli offerenti in competizione sono stati Ditta Binetti Macchine Utensili Srl, EVGroup Europe & Asia/Pacific GMBH e Jeol (Italia) S.p.A..

Appalti recenti in cui viene citato il fornitore FEI Italia SRL

2023-08-09   fornitura di un Crio-microscopio elettronico a trasmissione (Crio-TEM) ad alta risoluzione (Istituto di Cristallografia del Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR-IC))
PROCEDURA APERTA SOPRA SOGLIA COMUNITARIA AI SENSI DELL’ART. 71 DEL D. LGS. N. 36/2023, PER L’AFFIDAMENTO DELLA FORNITURA DI UN CRIO-MICROSCOPIO ELETTRONICO A TRASMISSIONE (CRIO-TEM) AD ALTA RISOLUZIONE – CPV 38511200-2 - CUI F80054330586202300121 - NELL’AMBITO DEL PIANO NAZIONALE RIPRESA E RESILIENZA (PNRR) MISSIONE 4 «ISTRUZIONE E RICERCA» - COMPONENTE 2 «DALLA RICERCA ALL’IMPRESA» - LINEA DI INVESTIMENTO 3.1 «FONDO PER LA REALIZZAZIONE DI UN SISTEMA INTEGRATO DI INFRASTRUTTURE DI RICERCA E … Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2023-06-22   Fornitura di apparati microanalitici (microscopio elettronico a scansione dual beam e microsonda elettronica) (STITUTO NAZIONALE DI GEOFISICA E VULCANOLOGIA)
Fornitura di apparati microanalitici (microscopio elettronico a scansione dual beam e microsonda elettronica) Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL Jeol (Italia) S.p.A.
2023-05-11   Progetto In-LINK-IT (C.N.R. Consiglio Nazionale delle Ricerche -Istituto di Struttura della Materia)
Fornitura e installazione per il “Progetto In-LINK-IT” di un sistema complesso “FIB-SEM” Focused Ion Beam (FIB) e Scanning Electron Microscope (SEM) ad emissione di campo, dotato di AFM, EDS e accessori. Spesa cofinanziata dal PO FESR Basilicata 2014-2020 Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2022-04-14   Fornitura, installazione e resa operativa di un “SISTEMA FIB-SEM” (FOCUSED ION BEAM – SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)”... (Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche)
Fornitura, installazione e resa operativa di un “SISTEMA FIB-SEM” (FOCUSED ION BEAM – SCANNING ELECTRON MICROSCOPE) - CIG: 91887181F9 Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2021-12-23   Procedura aperta comunitaria in un unico lotto per l’affidamento della fornitura di un microscopio elettronico a... (Università degli studi di Ferrara)
Procedura aperta comunitaria in un unico lotto per l’affidamento della fornitura di un microscopio elettronico a trasmissione per il Centro di Microscopia Elettronica del Dipartimento di Medicina Traslazionale e per la Romagna, per un importo complessivo posto a base di gara pari a € 524.590,00 (IVA esclusa) Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2021-05-17   Fornitura in lotto unico di un crio-microscopio elettronico a trasmissione (CRIO-TEM) integrato da un sistema... (Consiglio nazionale delle ricerche — dipartimento Scienze biomediche (DSB))
Fornitura in lotto unico di un crio-microscopio elettronico a trasmissione (CRIO-TEM) integrato da un sistema avanzato di preparazione in-situ dei campioni tramite «CRYO-FIB-Milling» da consegnare ed installare presso la sede di napoli dell’istituto di scienze applicate e sistemi intelligenti (ISASI) del Consiglio nazionale delle ricerche. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2020-09-22   Fornitura di attrezzature scientifiche per lo sviluppo della Facility FBK «3D Integration» (Fondazione Bruno Kessler)
L'appalto, suddiviso in due lotti, è finalizzato alla fornitura di sistemi di fotolitografia per microfabbricazione in camera pulita e di un sistema FIB-SEM per lo sviluppo della Facility FBK «3D Integration» nel contesto del progetto di microelettronica IPCEI. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: EVGroup Europe & Asia/Pacific GMBH FEI Italia SRL
2019-09-10   Fornitura di un microscopio elettronico ad emissione di campo ad altissima risoluzione, completo di colonna ionica al gallio (Fondazione istituto italiano di tecnologia)
Gara a procedura aperta ai sensi dell’art. 60 del D.Lgs. 50/2016 per l’affidamento della fornitura di un microscopio elettronico ad emissione di campo ad altissima risoluzione, completo di colonna ionica al gallio. CIG 8009672E6B — CUP B61G17000190007 Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2016-07-08   Gara d'appalto a procedura aperta, ai sensi art. 3, 1, sss) D.Lgs. 50 /2016, per l'acquisto di un microscopio... (Università degli studi di Milano)
Acquisto di un microscopio elettronico a trasmissione per applicazione a criotemperature. CIG 6718403989. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2015-07-03   Fornitura di un microscopio elettronico a scansione con sorgente field emission Schottky a catodo caldo (FE-SEM) (Università di Pisa)
Fornitura di un microscopio a scansione con sorgente field emission Schottky a catodo caldo (FE-SEM) — CIG: 6318925DDB. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2014-10-22   Procedura aperta ai sensi degli artt. 3 comma 37, 54 e 55 comma 5 del D.Lgs. 163/06 e s.m.i. per la fornitura di un... (Università degli Studi Mediterranea — Dipartimento DIIES)
Fornitura di un microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo con colonna ionica focalizzata secondo le caratteristiche tecniche di cui all'art. 2 del CSA — CIG 59751799B0. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2014-08-22   Procedura aperta per l'affidamento del contratto di fornitura di un Microscopio elettronico, con l'utilizzo della... (Fondazione I.r.c.c.s. Istituto Neurologico Carlo Besta)
Procedura aperta per l'affidamento del contratto di fornitura di un Microscopio elettronico, con l'utilizzo della piattaforma telematica SinTel — codice CIG 583609304D (CUP J46J13000120001). Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2014-07-18   Procedura aperta per la fornitura e posa in opera di attrezzature scientifiche 2 lotti: — lotto 1: microscopio... (Dipartimento di Ingegneria Elettronica, Chimica e Ingegneria Industriale)
Procedura aperta per la fornitura e posa in opera di attrezzature scientifiche nell'ambito del PO FESR INTEP dal titolo “Innovazione Tecnologica e di Processo per il settore mani-fatturiero” linea d'intervento 4.1.2.A. — Lotto 1: Microscopio elettronico a scansione (FEG SEM) ambientale Imp. a base di gara 356 558 EUR + IVA; CIG: 5852762BFB, — Lotto 2: Centro lavoro Friction Stir Welding Imp. a base di gara 258 197 EUR + IVA; CIG: 5852786FC8. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: Ditta Binetti Macchine Utensili Srl FEI Italia SRL
2012-09-14   Gara 1/DIPSCCHI/2012 (Dipartimento di scienze chimiche dell'Università degli studi di Napoli Federico II)
Fornitura, installazione e messa in funzione di un microscopio elettronico a scansione SEM ad alta risoluzione completo di microanalisi a raggi X (EDS). Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2012-09-11   Comando UU.MM.SS. “Palidoro” Carabinieri – servizio amministrativo, viale di Tor di Quinto n. 119, 00191 Roma, ITALIA (Comando UU.MM.SS. carabinieri "Palidoro" - servizio amministrativo)
Fornitura ed installazione di n. 1 (uno) microscopio elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo completo di microanalisi per il Reparto carabinieri investigazioni scientifiche di Messina. DUVRI: negativo; CIG: 4536607E83. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2011-07-05   Fornitura e installazione di un microscopio elettronico a elettronico a trasmissione Cryo da 200kV per il Centro IIT CRIB (Fondazione istituto italiano di tecnologia)
Fornitura e installazione di un microscopio elettronico a trasmissione Cryo da 200kV per il Centro IIT CRIB. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
2011-03-08   Procedura aperta per la fornitura di n. 1 microscopio elettronico a trasmissione (TEM) (Istituto zooprofilattico sperimentale della Lombardia e dell'Emilia Romagna)
N. 1 microscopio elettronico a trasmissione (TEM). Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia SRL
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