Fornitura di attrezzature scientifiche per lo sviluppo della Facility FBK «3D Integration»

Fondazione Bruno Kessler

L'appalto, suddiviso in due lotti, è finalizzato alla fornitura di sistemi di fotolitografia per microfabbricazione in camera pulita e di un sistema FIB-SEM per lo sviluppo della Facility FBK «3D Integration» nel contesto del progetto di microelettronica IPCEI.

Scadenza

Il termine per la ricezione delle offerte era 2020-11-03. L'appalto è stato pubblicato su 2020-09-22.

Fornitori

I seguenti fornitori sono menzionati nelle decisioni di aggiudicazione o in altri documenti di appalto:

• EVGroup Europe & Asia/Pacific GMBH
• FEI Italia SRL

Chi?

• Fondazione Bruno Kessler

Cosa?

• Strumenti vari di valutazione o prova › Ricerca, sperimentazione e simulatori tecnico-scientifici

Dove?

• Provincia Autonoma di Trento › Trento

Storia dell'approvvigionamento

Data	Documento
2020-09-22	Avviso di gara
2020-09-28	Informazioni complementari
2020-10-22	Informazioni complementari
2020-12-16	Avviso di aggiudicazione

Avviso di gara (2020-09-22)
Oggetto
Ambito di applicazione dell'appalto
Titolo: Ricerca, sperimentazione e simulatori tecnico-scientifici
Breve descrizione:

Metadati dell'avviso
Lingua originale: italiano 🗣️
Tipo di documento: Avviso di gara
Natura del contratto: Forniture
Regolamento: Unione Europea, con partecipazione AAP
Vocabolario comune per gli appalti (CPV)
Codice: Ricerca, sperimentazione e simulatori tecnico-scientifici 📦
Codice CPV supplementare: Ricerca, sperimentazione e simulatori tecnico-scientifici 📦
Luogo di esecuzione
Regione NUTS: Trento 🏙️

Procedura
Tipo di procedura: Procedura aperta
Tipo di offerta: Presentazione di un'offerta per tutti i lotti
Criteri di assegnazione
Offerta economicamente più vantaggiosa

Amministrazione aggiudicatrice
Identità
Paese: Italia 🇮🇹
Tipo di amministrazione aggiudicatrice: Organismo di diritto pubblico
Nome dell'amministrazione aggiudicatrice: Fondazione Bruno Kessler
Indirizzo postale: via S. Croce 77
Codice postale: 38122
Città postale: Trento
Contatto
Indirizzo Internet: http://www.fbk.eu 🌏
E-mail: gare@fbk.eu 📧
URL dei documenti: http://shorturl.at/DX034 🌏
URL per la partecipazione: https://www.servizionline.provincia.tn.it/portal/server.pt/community/imprese_e_professionisti/1065/iscrizione_e_aggiornamento_posizione_per_la_fornitura_di_beni_e_servizi/364397 🌏

Riferimento
Date
Data di invio: 2020-09-22 📅
Termine di presentazione: 2020-11-03 📅
Data di pubblicazione: 2020-09-25 📅
Identificatori
Numero dell'avviso: 2020/S 187-449374
Numero GU-S: 187
Informazioni aggiuntive

L’appalto è finanziato con fondi del ministero dello Sviluppo economico (MISE) nell’ambito della realizzazione del progetto IPCEI microelettronica.

Oggetto
Ambito di applicazione dell'appalto
Valore totale stimato: 2 330 000 EUR 💰
Numero massimo di lotti aggiudicati a un offerente: 2
Numero massimo di lotti per offerente: 2
Denominazione del lotto: Fornitura di sistemi di fotolitografia per microfabbricazione in camera pulita.
Numero del lotto: 1
Breve descrizione:

Fornitura di un sistema di allineamento ed esposizione fotolitografica (Mask Aligner) per la fabbricazione di dispositivi microelettronici su fette di silicio SEMI standard con diametro di 150 mm e di un sistema di copertura e sviluppo con photoresist e altri film (coater – developer) per la fabbricazione di dispositivi microelettronici su fette di silicio SEMI standard con diametro di 150 mm.

Valore stimato al netto dell'IVA: 1 440 000 EUR 💰
Durata: 240 giorni
Informazioni aggiuntive:

L’appalto è finanziato con fondi del ministero dello Sviluppo economico (MISE) nell’ambito della realizzazione del progetto IPCEI microelettronica.

Denominazione del lotto: Fornitura di un sistema FIB-SEM (Focused ion beam – Scanning electron microscope)
Numero del lotto: 2
Breve descrizione:

Fornitura di sistema integrato FIB-SEM (Focused ion beam – Scanning electron microscope) per la caratterizzazione di processi di micro-fabbricazione, esplicitata nei processi di:

1) caratterizzazione di micro e nanostrutture con risoluzione nanometrica mediante immagini di elettroni secondari e retrodiffusi prodotte tramite scansione di un fascio elettronico focalizzato mediante una colonna/microscopio elettronico (SEM);

2) erosione/sputtering (milling) mediante fasci energetici focalizzati di ioni (FIB) per la sezione delle strutture di interesse e per la preparazione di lamelle per analisi in trasmissione;

3) deposizione mediante precursori gassosi coadiuvati dall’energia deposta da fascio elettronico e/o ionico di strati protettivi;

4) caratterizzazione elementare e produzione di immagini elementari tramite spettroscopia X a dispersione di energia (EDXS);

5) caratterizzazione tramite diffrazione di elettroni retro-diffusi (EBSD).

Valore stimato al netto dell'IVA: 890 000 EUR 💰

Informazioni legali, economiche, finanziarie e tecniche
Condizioni di partecipazione
Abilitazione all'esercizio dell'attività professionale: Si veda disciplinare di gara.
Esecuzione dell'appalto
Condizioni di esecuzione del contratto: Si veda documentazione di gara.

Procedura
Base giuridica: 32014L0024
Ora di ricezione delle offerte: 23:59
Lingue in cui possono essere presentate le offerte o le domande di partecipazione: italiano 🗣️
Periodo di validità dell'offerta: 6 mesi
Data di apertura delle offerte: 2020-11-04 📅
Ora di apertura delle offerte: 10:00
Luogo: Via Sommarive 18, 38123, Trento.

Amministrazione aggiudicatrice
Contatto
Indirizzo Internet: www.fbk.eu 🌏
Indirizzo del profilo dell'acquirente: https://trasparenza.fbk.eu/ 🌏
URL dei documenti: http://shorturl.at/DX034 🌏
Indirizzo Internet: https://www.servizionline.provincia.tn.it/portal/server.pt/community/imprese_e_professionisti/1065/iscrizione_e_aggiornamento_posizione_per_la_fornitura_di_beni_e_servizi/364397 🌏

Informazioni complementari
Corpo di revisione
Nome: Tribunale regionale di giustizia amministrativa del Trentino Alto Adige — Sede di Trento
Indirizzo postale: via Calepina 50
Città postale: Trento
Codice postale: 38122
Paese: Italia 🇮🇹
Informazioni sui termini di presentazione di ricorso:

Informazioni dettagliate sui termini di presentazione dei ricorsi: termini di cui al D.Lgs. n. 104/2010 — codice del processo amministrativo.

Servizio presso il quale è possibile ottenere informazioni sulla procedura di riesame
Nome: Tribunale regionale di giustizia amministrativa del Trentino Alto Adige — sede di Trento
Fonte: OJS 2020/S 187-449374 (2020-09-22)

Informazioni complementari (2020-09-28)
Oggetto
Metadati dell'avviso
Tipo di documento: Informazioni complementari

Riferimento
Date
Data di invio: 2020-09-28 📅
Data di pubblicazione: 2020-10-02 📅
Identificatori
Numero dell'avviso: 2020/S 192-462294
Si riferisce all'avviso: 2020/S 187-449374
Numero GU-S: 192
Fonte: OJS 2020/S 192-462294 (2020-09-28)

Informazioni complementari (2020-10-22)
Riferimento
Date
Data di invio: 2020-10-22 📅
Termine di presentazione: 2020-11-17 📅
Data di pubblicazione: 2020-10-27 📅
Identificatori
Numero dell'avviso: 2020/S 209-510437
Numero GU-S: 209
Fonte: OJS 2020/S 209-510437 (2020-10-22)

Avviso di aggiudicazione (2020-12-16)
Oggetto
Ambito di applicazione dell'appalto
Valore totale dell'appalto: 2 284 771 EUR 💰
Metadati dell'avviso
Tipo di documento: Avviso di aggiudicazione

Procedura
Tipo di offerta: Non applicabile

Riferimento
Date
Data di invio: 2020-12-16 📅
Data di pubblicazione: 2020-12-21 📅
Identificatori
Numero dell'avviso: 2020/S 248-616898
Numero GU-S: 248
Informazioni aggiuntive

L’appalto è finanziato con fondi del ministero dello Sviluppo economico (MISE) nell’ambito della realizzazione del progetto IPCEI Microelettronica.

Oggetto
Ambito di applicazione dell'appalto
Denominazione del lotto: Fornitura di sistemi di fotolitografia per microfabbricazione in camera pulita
Breve descrizione:

Fornitura di un sistema di allineamento ed esposizione fotolitografica (Mask Aligner) per la fabbricazione di dispositivi microelettronici su fette di silicio SEMI standard con diametro di 150 mm e di un sistema di copertura e sviluppo con photoresist e altri film (Coater – Developer) per la fabbricazione di dispositivi microelettronici su fette di silicio SEMI standard con diametro di 150 mm.

Informazioni aggiuntive:

L’appalto è finanziato con fondi del ministero dello Sviluppo economico (MISE) nell’ambito della realizzazione del progetto IPCEI Microelettronica.

Denominazione del lotto: Fornitura di un sistema FIB-SEM (Focused Ion Beam – Scanning Electron Microscope)
Breve descrizione:

Fornitura di sistema integrato FIB-SEM (Focused Ion Beam – Scanning Electron Microscope) per la caratterizzazione di processi di micro-fabbricazione, esplicitata nei processi di:

Procedura
Criteri di assegnazione
Criterio di qualità (nome): Offerta tecnica
Criterio di qualità (ponderazione): 70
Prezzo (ponderazione): 30
Criterio di qualità (ponderazione): 80
Prezzo (ponderazione): 20

Aggiudicazione del contratto
Nome: EVGroup Europe & Asia/Pacific GMBH
Indirizzo postale: DI Erich Thallner Strasse 1
Città postale: St. Florian am Inn
Paese: Austria 🇦🇹
Westösterreich 🏙️
Valore totale dell'appalto: 1 421 471 EUR 💰
Nome: FEI Italia srl
Indirizzo postale: viale Monte Nero 84
Città postale: Milano
Paese: Italia 🇮🇹
Milano 🏙️
Valore totale dell'appalto: 863 300 EUR 💰
Informazioni sulle gare d'appalto
Numero di offerte ricevute: 2

Informazioni complementari
Corpo di revisione
Informazioni sui termini di presentazione di ricorso:

Informazioni dettagliate sui termini di presentazione dei ricorsi: termini di cui al D.Lgs. 104/2010 — codice del processo amministrativo.

Fonte: OJS 2020/S 248-616898 (2020-12-16)

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Strumenti vari di valutazione o prova (1)