Fornitore: FEI Italia S.R.L.

5 appalti archiviati

Storicamente, gli offerenti in competizione sono stati ASSING S.P.A. e NIKON EUROPE B.V.

Appalti recenti in cui viene citato il fornitore FEI Italia S.R.L.

2023-03-29   PA fornitura di n. 3 microscopi per conto dell’IRCSS AOU di Bologna (Azienda USL di Bologna)
fornitura di n. 3 microscopi per conto dell’IRCSS AOU di Bologna Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia S.R.L. NIKON EUROPE B.V
2022-12-21   fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per... (Università degli studi Roma Tre)
fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per il Dipartimento di Ingegneria, secondo le norme di legge che regolano lo specifico settore, come dettagliatamente citate nel Capitolato Tecnico Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia S.R.L.
2019-09-12   Procedura aperta per la fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e... (Politecnico di Torino)
Fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione (TEM/STEM) (lotto 2). I documenti di gara sono disponibili sul sito di Ateneo a partire dal 19.9.2019. Per ulteriori informazioni si rinvia al Disciplinare di gara e al Capitolato speciale d'oneri Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: ASSING S.P.A. FEI Italia S.R.L.
2018-01-03   Fornitura, installazione, garanzia e manutenzione di una piattaforma avanzata per analisi microstrutturali,... (Università degli studi di Trento)
Fornitura, installazione, garanzia e manutenzione di una piattaforma avanzata per analisi microstrutturali, cristallografiche e chimiche di materiali su scala sub-nanometrica con tecniche di microscopia elettronica a scansione in trasmissione e spettroscopia X a dispersione di energia. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia S.R.L.
2012-05-22   Gara a procedura aperta per l'affidamento della fornitura di un microscopio elettronico ad emissione di campo... (Fondazione istituto italiano di tecnologia)
Fornitura, installazione, messa in funzione e relativo training per il personale utente di un microscopio elettronico a emissione di campo, completo di colonna ionica focalizzata. Il microscopio fornisce immagine tramite una colonna a fascio di elettroni (SEM), comprensiva di una suite completa di sensori, mentre il fascio di ioni focalizzato (FIB) realizza una "fresatura" veloce,a scala nanometrica, e applicazioni per la preparazione e nanostrutturazione del campione. Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia S.R.L.