2022-12-21   fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per... (Università degli studi Roma Tre)
fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per il Dipartimento di Ingegneria, secondo le norme di legge che regolano lo specifico settore, come dettagliatamente citate nel Capitolato Tecnico Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: FEI Italia S.R.L.
2019-09-12   Procedura aperta per la fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e... (Politecnico di Torino)
Fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione (TEM/STEM) (lotto 2). I documenti di gara sono disponibili sul sito di Ateneo a partire dal 19.9.2019. Per ulteriori informazioni si rinvia al Disciplinare di gara e al Capitolato speciale d'oneri Visualizza l'appalto »
Fornitori citati: ASSING S.P.A. FEI Italia S.R.L.