Procedura aperta per la fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione (TEM/STEM) (lotto 2)
Fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione (TEM/STEM) (lotto 2).
I documenti di gara sono disponibili sul sito di Ateneo a partire dal 19.9.2019.
Per ulteriori informazioni si rinvia al Disciplinare di gara e al Capitolato speciale d'oneri
Scadenza
Il termine per la ricezione delle offerte era 2019-10-23.
L'appalto è stato pubblicato su 2019-09-12.
Fornitori
I seguenti fornitori sono menzionati nelle decisioni di aggiudicazione o in altri documenti di appalto:
Avviso di gara (2019-09-12) Oggetto Ambito di applicazione dell'appalto
Titolo: Microscopi elettronici a trasmissione
Breve descrizione:
“Fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione...”
Breve descrizione
Fornitura di un sistema dual beam fib-fesem con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione (TEM/STEM) (lotto 2).
Procedura
Tipo di procedura: Procedura aperta
Tipo di offerta: Presentazione di un'offerta per tutti i lotti
Criteri di assegnazione
Offerta economicamente più vantaggiosa
Riferimento Date
Data di invio: 2019-09-12 📅
Termine di presentazione: 2019-10-23 📅
Data di pubblicazione: 2019-09-17 📅
Identificatori
Numero dell'avviso: 2019/S 179-435450
Numero GU-S: 179
Informazioni aggiuntive
“1) L'importo citato al punto II.2.6) è da intendersi al netto degli oneri per la sicurezza per rischi interferenziali stimati dall'Amministrazione di 1 000,00 EUR.”
1) L'importo citato al punto II.2.6) è da intendersi al netto degli oneri per la sicurezza per rischi interferenziali stimati dall'Amministrazione di 1 000,00 EUR.
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Fonte: OJS 2019/S 179-435450 (2019-09-12)
Avviso di aggiudicazione (2019-12-19) Oggetto Ambito di applicazione dell'appalto
Breve descrizione:
“Fornitura di un sistema dual beam FIB-FESEM con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione...”
Breve descrizione
Fornitura di un sistema dual beam FIB-FESEM con fascio ionico ad atomi di xenon (lotto 1) e di un microscopio elettronico a trasmissione e a scansione TEM/STEM (lotto 2)
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Valore totale dell'appalto: 2 797 148 EUR 💰
Metadati dell'avviso
Tipo di documento: Avviso di aggiudicazione
Procedura
Tipo di offerta: Non applicabile
Riferimento Date
Data di invio: 2019-12-19 📅
Data di pubblicazione: 2019-12-24 📅
Identificatori
Numero dell'avviso: 2019/S 248-613129
Si riferisce all'avviso: 2019/S 179-435450
Numero GU-S: 248
Informazioni aggiuntive
“1) l'importo citato al punto II.2.6) è da intendersi al netto degli oneri per la sicurezza per rischi interferenziali stimati dall'amministrazione di 1 000,00 EUR;”
1) l'importo citato al punto II.2.6) è da intendersi al netto degli oneri per la sicurezza per rischi interferenziali stimati dall'amministrazione di 1 000,00 EUR;
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Fonte: OJS 2019/S 248-613129 (2019-12-19)